A comparative 1/f noise study of GeOI wafers obtained by the Ge enrichment technique and the Smart Cut technology
M. Valenza
(1, 2)
,
J. El Husseini
(1, 2)
,
J. Gyani
(1, 2)
,
Frédéric Martinez
(1, 2)
,
M. Bawedin
(1, 2)
,
C. Le Royer
(3)
,
E. Augendre
(3)
,
J. Damlencourt
Frédéric Martinez
- Fonction : Auteur
- PersonId : 15532
- IdHAL : frederic-martinez
- ORCID : 0000-0002-3917-7087
- IdRef : 074261118
M. Bawedin
- Fonction : Auteur
- PersonId : 173059
- IdHAL : maryline-bawedin
- ORCID : 0000-0001-9984-7591
- IdRef : 253125103
J. Damlencourt
- Fonction : Auteur