Article Dans Une Revue
Microscopy and Microanalysis
Année : 2017
Pierre-Henri Jouneau : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02062688
Soumis le : samedi 9 mars 2019-18:09:18
Dernière modification le : mardi 3 septembre 2024-11:14:08
Citer
T. Vorauer, J.H. Rose, Pierre-Henri Jouneau, P. Bayle-Guillemaud, B. Fuchsbichler, et al.. 3D Characterization of Silicon Based Electrode Material for Advanced Lithium-Ion Storage Technologies. Microscopy and Microanalysis, 2017, 23 (S1), pp.2026-2027. ⟨10.1017/S1431927617010790⟩. ⟨hal-02062688⟩
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