Communication Dans Un Congrès
Année : 2015
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https://hal.science/hal-02055358
Soumis le : dimanche 3 mars 2019-21:47:06
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:10
Citer
V. Gruzinskis, P. Shiktorov, E. Starikov, H. Marinchio, C. Palermo, et al.. Drain current noise in GaN MOSFETs at THz generation conditions. 2015 International Conference on Noise and Fluctuations (ICNF), Jun 2015, Xian, China. pp.1-4, ⟨10.1109/ICNF.2015.7288624⟩. ⟨hal-02055358⟩
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