Thermal conductivity characterization by means of scanning thermal microscopy: impact of sample properties, - Archive ouverte HAL
Poster De Conférence Année : 2019

Thermal conductivity characterization by means of scanning thermal microscopy: impact of sample properties,

Eloïse Guen
  • Fonction : Auteur
Centre d'Energétique et de Thermique de Lyon
Axel Pic
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 1039446
Centre d'Energétique et de Thermique de Lyon
Sebastien Gallois-Garreignot
  • Fonction : Auteur
STMicroelectronics [Crolles]
N.J. Kaur
  • Fonction : Auteur
Petr Klapetek
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 878029
Czech Metrology Institute
Pierre-Olivier Chapuis
Centre d'Energétique et de Thermique de Lyon
CV
Séverine Gomès
Centre d'Energétique et de Thermique de Lyon
CV

Domaines

Thermique [physics.class-ph]

Pierre-Olivier Chapuis  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-02043070

Soumis le : mercredi 20 février 2019-17:08:09

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:09

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02043070 , version 1 (20-02-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02043070 , version 1

Citer

Eloïse Guen, Axel Pic, Sebastien Gallois-Garreignot, N.J. Kaur, Petr Klapetek, et al.. Thermal conductivity characterization by means of scanning thermal microscopy: impact of sample properties,. MRS Spring Meeting Symposium "Nanoscale Heat Transport: Fundamentals", Apr 2019, Phoenix, United States. ⟨hal-02043070⟩

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