Optimization of SEU Simulations for SRAM Cells Reliability under Radiation - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Journal of Electronic Testing: : Theory and Applications Année : 2012
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02025257 , version 1 (19-02-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02025257 , version 1

Citer

K. Castellani-Coulié, Hassen Aziza, G. Micolau, Jean-Michel Portal. Optimization of SEU Simulations for SRAM Cells Reliability under Radiation. Journal of Electronic Testing: : Theory and Applications, 2012, 28 (3), pp.331-338. ⟨hal-02025257⟩
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