Simulation of Single and Multi-Node Collection: Impact on SEU Occurrence in Nanometric SRAM Cells - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue IEEE Transactions on Nuclear Science Année : 2011

Simulation of Single and Multi-Node Collection: Impact on SEU Occurrence in Nanometric SRAM Cells

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics] Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://hal.science/hal-02025253

Soumis le : mardi 19 février 2019-15:41:19

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Dates et versions

hal-02025253 , version 1 (19-02-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02025253 , version 1

Citer

Gnima Toure, Guillaume Hubert, Karine Castellani-Coulie, Sophie Duzellier, Jean-Michel Portal. Simulation of Single and Multi-Node Collection: Impact on SEU Occurrence in Nanometric SRAM Cells. IEEE Transactions on Nuclear Science, 2011, 58 (3), pp.862-869. ⟨hal-02025253⟩

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