Thermal conductivity measurements using resistive scanning thermal micro and nanoprobes - Archive ouverte HAL
Poster De Conférence Année : 2018

Thermal conductivity measurements using resistive scanning thermal micro and nanoprobes

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Sciences de l'ingénieur [physics]

Séverine GOMES  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-02024092

Soumis le : lundi 18 février 2019-20:57:35

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:09

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02024092 , version 1 (18-02-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02024092 , version 1

Citer

Eloïse Guen, Pierre-Olivier Chapuis, Séverine Gomès. Thermal conductivity measurements using resistive scanning thermal micro and nanoprobes. International Microscopy Congress (IMC)19, Sep 2018, Sydney, Australia. ⟨hal-02024092⟩

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