New tools for advance in thermal nanometrology using scanning thermal microscopy (SThM) - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2018

New tools for advance in thermal nanometrology using scanning thermal microscopy (SThM)

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics]

Séverine GOMES  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-02024090

Soumis le : lundi 18 février 2019-20:46:17

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:09

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02024090 , version 1 (18-02-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02024090 , version 1

Citer

Eloïse Guen, Pierre-Olivier Chapuis, David Renahy, Pascal Vincent, Stéphane Lefèvre, et al.. New tools for advance in thermal nanometrology using scanning thermal microscopy (SThM). International Microscopy Congress (IMC) 19, Sep 2018, Sydney, Australia. ⟨hal-02024090⟩

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