Nanometer-scale active thermal devices for thermal microscopy probe calibration - Archive ouverte HAL
Poster De Conférence Année : 2018

Nanometer-scale active thermal devices for thermal microscopy probe calibration

Jun Yin
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 976121
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
Tianqi Zhu
  • Fonction : Auteur
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
Di Zhou
  • Fonction : Auteur
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
Thierno-Moussa Bah
  • Fonction : Auteur
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
Stanislav Didenko
  • Fonction : Auteur
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
Séverine Gomes
Centre d'Energétique et de Thermique de Lyon
CV
Olivier Bourgeois
Thermodynamique et biophysique des petits systèmes
Didier Pellerin
  • Fonction : Auteur
Concept Scientific Instruments
Emmanuel Dubois
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
Microélectronique Silicium - IEMN
CV
J.F. Robillard
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
Microélectronique Silicium - IEMN
CV

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics]

Séverine GOMES  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-02023911

Soumis le : lundi 18 février 2019-17:45:05

Dernière modification le : mercredi 18 décembre 2024-10:03:15

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02023911 , version 1 (18-02-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02023911 , version 1

Citer

Jun Yin, Tianqi Zhu, Di Zhou, Thierno-Moussa Bah, Stanislav Didenko, et al.. Nanometer-scale active thermal devices for thermal microscopy probe calibration. 16èmes Journées de La Matière Condensée (JMC2018), Aug 2018, Grenoble, France. pp.513-513. ⟨hal-02023911⟩

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