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Poster De Conférence Année : 2018

Nanometer-scale active thermal devices for thermal microscopy probe calibration

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02023911 , version 1 (18-02-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02023911 , version 1

Citer

Jun Yin, Tianqi Zhu, Di Zhou, Thierno-Moussa Bah, Stanislav Didenko, et al.. Nanometer-scale active thermal devices for thermal microscopy probe calibration. 16èmes Journées de La Matière Condensée (JMC2018), Aug 2018, Grenoble, France. pp.513-513. ⟨hal-02023911⟩
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