X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and diffraction (XPD) study of a few layers of graphene on 6H-SiC(0001) - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Surface Science : A Journal Devoted to the Physics and Chemistry of Interfaces Année : 2013

X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and diffraction (XPD) study of a few layers of graphene on 6H-SiC(0001)

D. Ferrah
  • Fonction : Auteur
INL - Hétéroepitaxie et Nanostructures
J. Penuelas
INL - Hétéroepitaxie et Nanostructures
CV
C. Bottela
  • Fonction : Auteur
INL - Hétéroepitaxie et Nanostructures
G. Grenet
INL - Hétéroepitaxie et Nanostructures
A. Ouerghi
Laboratoire de photonique et de nanostructures

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics] Matériaux

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https://hal.science/hal-02023390

Soumis le : lundi 18 février 2019-15:07:35

Dernière modification le : mercredi 20 septembre 2023-13:10:03

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Identifiants

  • HAL Id : hal-02023390 , version 1

Citer

D. Ferrah, J. Penuelas, C. Bottela, G. Grenet, A. Ouerghi. X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and diffraction (XPD) study of a few layers of graphene on 6H-SiC(0001). Surface Science : A Journal Devoted to the Physics and Chemistry of Interfaces, 2013, 615, pp.47-56. ⟨hal-02023390⟩

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