Instantaneous frequency measurement for IR-UWB signal in CMOS 130 nm - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2016

Instantaneous frequency measurement for IR-UWB signal in CMOS 130 nm

A. Goavec
  • Fonction : Auteur
Remy Vauche
Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence
CV
Jean Gaubert
Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence
F. Hameau
  • Fonction : Auteur
M. Zarudniev
  • Fonction : Auteur
Eric Mercier
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 762009
  • IdRef : 092385028

Domaines

Electronique
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Pascal XAVIER  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

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Soumis le : jeudi 6 janvier 2022-14:36:38

Dernière modification le : lundi 10 juin 2024-16:58:03

Archivage à long terme le : jeudi 7 avril 2022-19:27:30

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Citer

A. Goavec, Remy Vauche, Jean Gaubert, F. Hameau, M. Zarudniev, et al.. Instantaneous frequency measurement for IR-UWB signal in CMOS 130 nm. 2016 IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS), Dec 2016, Monte Carlo, Monaco. pp.157-160, ⟨10.1109/ICECS.2016.7841156⟩. ⟨hal-02022303⟩

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