Article Dans Une Revue
Key Engineering Materials
Année : 2015
Patrick PITTET : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02020798
Soumis le : vendredi 15 février 2019-14:18:48
Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:18:11
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-02020798 , version 1
- DOI : 10.4028/www.scientific.net/KEM.644.78
Citer
Pierrick Guiral, Jean Marc Galvan, Patrick Pittet, Ruo Xi Wang, Guo Neng Lu, et al.. Failure Detection Method for GaN-Based Dosimetric Systems. Key Engineering Materials, 2015, 644, pp.78-82. ⟨10.4028/www.scientific.net/KEM.644.78⟩. ⟨hal-02020798⟩
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