Article Dans Une Revue
Microscopy and Microanalysis
Année : 2017
Armelle Michetti : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02015884
Soumis le : mardi 12 février 2019-14:39:29
Dernière modification le : mardi 3 septembre 2024-11:16:05
Citer
Bastien Bonef, Hervé Boukari, Adeline Grenier, Isabelle Mouton, Pierre-Henri Jouneau, et al.. Atomic Scale Structural Characterization of Epitaxial (Cd,Cr)Te Magnetic Semiconductor. Microscopy and Microanalysis, 2017, 23 (4), pp.717-723. ⟨10.1017/s1431927617000642⟩. ⟨hal-02015884⟩
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