Atomic Scale Structural Characterization of Epitaxial (Cd,Cr)Te Magnetic Semiconductor - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Microscopy and Microanalysis Année : 2017

Atomic Scale Structural Characterization of Epitaxial (Cd,Cr)Te Magnetic Semiconductor

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02015884 , version 1 (12-02-2019)

Identifiants

Citer

Bastien Bonef, Hervé Boukari, Adeline Grenier, Isabelle Mouton, Pierre-Henri Jouneau, et al.. Atomic Scale Structural Characterization of Epitaxial (Cd,Cr)Te Magnetic Semiconductor. Microscopy and Microanalysis, 2017, 23 (4), pp.717-723. ⟨10.1017/s1431927617000642⟩. ⟨hal-02015884⟩
42 Consultations
0 Téléchargements

Altmetric

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More