RF Characterization, Analysis and Miniaturization Impact of RDL Interconnects - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2018

RF Characterization, Analysis and Miniaturization Impact of RDL Interconnects

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://hal.science/hal-02015694

Soumis le : mardi 12 février 2019-12:56:02

Dernière modification le : mercredi 30 octobre 2024-19:42:49

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Dates et versions

hal-02015694 , version 1 (12-02-2019)

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Citer

Helene Jacquinot, Alexis Farcy, Thierry Lacrevaz, Kevin Morot, Bernard Flechet, et al.. RF Characterization, Analysis and Miniaturization Impact of RDL Interconnects. 2018 IEEE 68th Electronic Components and Technology Conference (ECTC), May 2018, San Diego, United States. pp.2000-2006, ⟨10.1109/ECTC.2018.00300⟩. ⟨hal-02015694⟩

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