Statistical Analysis of Secondary Electron Spectroscopic Images Using Ultra-Low Energies Reveal Nanoscale Surface Morphology of Functional Organic Blends - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Microscopy and Microanalysis Année : 2018

Statistical Analysis of Secondary Electron Spectroscopic Images Using Ultra-Low Energies Reveal Nanoscale Surface Morphology of Functional Organic Blends

Jochen Kammerer
  • Fonction : Auteur
Riva Alkarsifi
Centre Interdisciplinaire de Nanoscience de Marseille
Christine Videlot-Ackermann
Centre Interdisciplinaire de Nanoscience de Marseille
Olivier Margeat
Centre Interdisciplinaire de Nanoscience de Marseille
CV
Bernd Schindler
  • Fonction : Auteur
Irene Wacker
  • Fonction : Auteur
Jörg Ackermann
Centre Interdisciplinaire de Nanoscience de Marseille
Rasmus Schroder
  • Fonction : Auteur
Martin Pfannmoller
  • Fonction : Auteur

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics] Optique / photonique

Christine Videlot-Ackermann  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

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Soumis le : jeudi 31 janvier 2019-10:47:01

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Citer

Jochen Kammerer, Riva Alkarsifi, Christine Videlot-Ackermann, Olivier Margeat, Bernd Schindler, et al.. Statistical Analysis of Secondary Electron Spectroscopic Images Using Ultra-Low Energies Reveal Nanoscale Surface Morphology of Functional Organic Blends. Microscopy and Microanalysis, 2018, 24 (S1), pp.628-629. ⟨hal-02001217⟩

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