Crystallographic orientation of facets and planar defects in functional nanostructures elucidated by nano-focused coherent diffractive X-ray imaging - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Nanoscale Année : 2018

Crystallographic orientation of facets and planar defects in functional nanostructures elucidated by nano-focused coherent diffractive X-ray imaging

Domaines

Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci]

Joël Eymery  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01986662

Soumis le : samedi 19 janvier 2019-00:05:00

Dernière modification le : mercredi 18 décembre 2024-09:29:36

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Dates et versions

hal-01986662 , version 1 (19-01-2019)

Identifiants

Citer

Marie-Ingrid Richard, Sara Fernandez, J. Eymery, Jan Philipp Hofmann, Lu Gao, et al.. Crystallographic orientation of facets and planar defects in functional nanostructures elucidated by nano-focused coherent diffractive X-ray imaging. Nanoscale, 2018, 10 (10), pp.4833-4840. ⟨10.1039/C7NR07990G⟩. ⟨hal-01986662⟩

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