Comparison of on-wafer TRL calibration to ISS SOLT calibration with open-short de-embedding up to 500 GHz - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue IEEE Transactions on Terahertz Science and Technology Année : 2019
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01985495 , version 1 (18-01-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01985495 , version 1

Citer

Sebastien Fregonese, Marina Deng, Magali de Matos, Chandan Yadav, Christian Raya, et al.. Comparison of on-wafer TRL calibration to ISS SOLT calibration with open-short de-embedding up to 500 GHz. IEEE Transactions on Terahertz Science and Technology, 2019, 9 (1), pp.89-97. ⟨hal-01985495⟩
70 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More