Barrier Breakdown Mechanisms in MgO-Based Magnetic Tunnel Junctions and Correlation With Low-Frequency Noise - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2012

Barrier Breakdown Mechanisms in MgO-Based Magnetic Tunnel Junctions and Correlation With Low-Frequency Noise

S. Amara
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SPINtronique et TEchnologie des Composants
R. Sousa
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SPINtronique et TEchnologie des Composants
H. Béa
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SPINtronique et TEchnologie des Composants
Claire Baraduc
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SPINtronique et TEchnologie des Composants
Ken Mackay
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SPINtronique et TEchnologie des Composants

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Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci]

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Soumis le : mercredi 19 décembre 2018-09:52:44

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Dates et versions

hal-01959937 , version 1 (19-12-2018)

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Citer

S. Amara, R. Sousa, H. Béa, Claire Baraduc, Ken Mackay, et al.. Barrier Breakdown Mechanisms in MgO-Based Magnetic Tunnel Junctions and Correlation With Low-Frequency Noise. International Reliability Physics Symposium, Jun 2014, Waikoloa, United States. pp.4340-4343, ⟨10.1109/IRPS.2014.6861097⟩. ⟨hal-01959937⟩

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