Numerical and Experimental Assessment of Charge Control in III–V Nano-Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor
Ming Shi
(1)
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Jérôme Saint-Martin
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Arnaud Bournel
(1)
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Damien Querlioz
(1)
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Philippe Dollfus
(1)
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Jiongjong Mo
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Nicolas Wichmann
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L. Desplanque
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Xavier Wallart
(3)
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Francois Danneville
(3)
,
S. Bollaert
(3)
Jérôme Saint-Martin
- Fonction : Auteur
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Arnaud Bournel
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Damien Querlioz
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Philippe Dollfus
- Fonction : Auteur
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Jiongjong Mo
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Nicolas Wichmann
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L. Desplanque
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Xavier Wallart
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Francois Danneville
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S. Bollaert
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