Combined in situ x-ray scattering and electrical measurements for characterizing phase transformations in nanometric functional films
Magali Putero
(1)
,
Benjamin Duployer
(2)
,
Ivan Blum
(1)
,
Toufik Ouled-Khachroum
,
Marie-Vanessa Coulet
(1)
,
Carine Perrin
,
Eric Ziegler
(3)
,
Dominique Mangelinck
(1)
,
Christophe Muller
(1)
Magali Putero
- Fonction : Auteur
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Ivan Blum
- Fonction : Auteur
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Toufik Ouled-Khachroum
- Fonction : Auteur
Marie-Vanessa Coulet
- Fonction : Auteur
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Carine Perrin
- Fonction : Auteur
Dominique Mangelinck
- Fonction : Auteur
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- IdHAL : dominique-mangelinck
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Christophe Muller
- Fonction : Auteur
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