Article Dans Une Revue
European Physical Journal: Applied Physics
Année : 2014
Magali Putero : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01951260
Soumis le : mardi 11 décembre 2018-12:27:03
Dernière modification le : lundi 10 juin 2024-16:58:03
Citer
Emilie Faivre, Roxane Llido, Magali Putero, Lahouari Fares, Christophe Muller. Nanostructural defects evidenced in failing silicon-based NMOS capacitors by advanced failure analysis techniques. European Physical Journal: Applied Physics, 2014, 66 (1), pp.10103. ⟨10.1051/epjap/2014130386⟩. ⟨hal-01951260⟩
44
Consultations
0
Téléchargements