Simulation and modelling of long term reliability of digital circuits implemented in FPGA - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2018
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Dates et versions

hal-01946442 , version 1 (06-12-2018)

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Citer

J.D. Aguirre Morales, F. Marc, A. Bensoussan, A. Durier. Simulation and modelling of long term reliability of digital circuits implemented in FPGA. Microelectronics Reliability, 2018, 88-90, pp.1130-1134. ⟨10.1016/j.microrel.2018.07.151⟩. ⟨hal-01946442⟩
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