Experimental evidence for exchange bias in polycrystalline BiFeO 3 /Ni 81 Fe 19 thin films - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Journal of Applied Physics Année : 2011
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Dates et versions

hal-01946190 , version 1 (05-12-2018)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01946190 , version 1

Citer

Tony Hauguel, Souren Pogossian, David Dekadjevi, David Spenato, Jean-Philippe Jay, et al.. Experimental evidence for exchange bias in polycrystalline BiFeO 3 /Ni 81 Fe 19 thin films. Journal of Applied Physics, 2011, 110 (7), pp.073906. ⟨hal-01946190⟩
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