Article Dans Une Revue
Journal of Applied Physics
Année : 2011
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https://hal.science/hal-01946190
Soumis le : mercredi 5 décembre 2018-18:35:09
Dernière modification le : vendredi 9 janvier 2026-11:22:07
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01946190 , version 1
Citer
Tony Hauguel, Souren Pogossian, David Dekadjevi, David Spenato, Jean-Philippe Jay, et al.. Experimental evidence for exchange bias in polycrystalline BiFeO 3 /Ni 81 Fe 19 thin films. Journal of Applied Physics, 2011, 110 (7), pp.073906. ⟨hal-01946190⟩
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