Communication Dans Un Congrès
Année : 2011
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https://hal.science/hal-01937444
Soumis le : mercredi 28 novembre 2018-10:22:58
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:08
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01937444 , version 1
Citer
M. Gedion, Frédéric Wrobel, F. Saigné, R. D. Schrimpf. Alpha-Soft Error Rate due to new generations of high-k gate oxides and metal gate electrodes in a 32 nm node. RADECS 2011, 2011, Seville, Spain. ⟨hal-01937444⟩
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