Characterization and modelling of laser-induced single-event burn-out in SiC power diodes - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2013

Characterization and modelling of laser-induced single-event burn-out in SiC power diodes

N. Mbaye
  • Fonction : Auteur
D. Lewis
  • Fonction : Auteur

Domaines

Electronique
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01935694 , version 1 (27-11-2018)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01935694 , version 1

Citer

N. Mbaye, V. Pouget, F. Darracq, D. Lewis. Characterization and modelling of laser-induced single-event burn-out in SiC power diodes. ESREF 2013, 2013, Arcachon, France. ⟨hal-01935694⟩
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