Analysis of thermal annealing approach to extend electronic device lifetime
S. Dhombres
(1)
,
A. Michez
(1)
,
J. Boch
(1, 2)
,
S. Beauvivre
(3)
,
D. Kraehenbuehl
(3)
,
F. Saigné
(1, 2)
,
J.-R. Vaillé
(1, 2)
,
P. Adell
(4)
,
F. Bezerra
,
E. Lorfèvre
(5)
J. Boch
- Fonction : Auteur
- PersonId : 18222
- IdHAL : jerome-boch
- ORCID : 0000-0002-5660-7501
- IdRef : 076170632
F. Saigné
- Fonction : Auteur
- PersonId : 19534
- IdHAL : frederic-saigne
- IdRef : 110480821
J.-R. Vaillé
- Fonction : Auteur
- PersonId : 19297
- IdHAL : jean-roch-vaille
- ORCID : 0000-0003-1367-0225
- IdRef : 079304702
F. Bezerra
- Fonction : Auteur
E. Lorfèvre
- Fonction : Auteur
- PersonId : 6087
- IdHAL : matthieu-kretzschmar
- ORCID : 0000-0001-5796-6138
- IdRef : 070177910