Article Dans Une Revue
IOP Conference Series: Materials Science and Engineering
Année : 2010
Etienne Talbot : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01929142
Soumis le : mercredi 21 novembre 2018-08:43:04
Dernière modification le : mercredi 3 avril 2024-10:20:12
Citer
D Blavette, Emmanuel Cadel, O Cojocaru-Mirédin, Bernard Deconihout. The investigation of boron-doped silicon using atom probe tomography. IOP Conference Series: Materials Science and Engineering, 2010, 7, pp.012004. ⟨10.1088/1757-899X/7/1/012004⟩. ⟨hal-01929142⟩
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