Membrane characterization by optical methods: Ellipsometry of the scattered field - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Journal of Membrane Science Année : 2008

Membrane characterization by optical methods: Ellipsometry of the scattered field

Y. Wyart
  • Fonction : Auteur
Laboratoire de Mécanique, Modélisation et Procédés Propres
G. Georges
  • Fonction : Auteur
C. Deumié
  • Fonction : Auteur
DiMABio
C. Amra
  • Fonction : Auteur
Institut FRESNEL
Philippe Moulin
Laboratoire de Mécanique, Modélisation et Procédés Propres

Domaines

Génie des procédés

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https://hal.science/hal-01916694

Soumis le : jeudi 8 novembre 2018-16:39:33

Dernière modification le : vendredi 15 novembre 2024-03:33:30

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Dates et versions

hal-01916694 , version 1 (08-11-2018)

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Citer

Y. Wyart, G. Georges, C. Deumié, C. Amra, Philippe Moulin. Membrane characterization by optical methods: Ellipsometry of the scattered field. Journal of Membrane Science, 2008, 318 (1-2), pp.145 - 153. ⟨10.1016/j.memsci.2008.02.039⟩. ⟨hal-01916694⟩

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