Communication Dans Un Congrès
Année : 2012
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https://hal.science/hal-01910083
Soumis le : mercredi 31 octobre 2018-15:18:48
Dernière modification le : lundi 23 septembre 2024-15:13:27
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01910083 , version 1
Citer
S. Baudon, L. Boyer, P. Notingher, S. Agnel, V. Smet, et al.. Characterization of trench gate IGBT gate oxydes submitted to thermo-electric cycling by capacitance-voltage and thermal step measurements. 8ème conférence de la Société Francaise d''Electrostatique SFE 2012, 2012, Cherbourg, France. ⟨hal-01910083⟩
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