On-line [TJ, Vce] Monitoring of IGBTs stressed by fast Power Cycling tests - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2013
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01908891 , version 1 (30-10-2018)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01908891 , version 1

Citer

A. Rashed, J.-J. Huselstein, F. Forest, T. Martiré, P. Enrici. On-line [TJ, Vce] Monitoring of IGBTs stressed by fast Power Cycling tests. EPE'13 15th European Conference on Power Electronics and Applications, 2013, Lille, France. ⟨hal-01908891⟩
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