Local micro-photoreflectance spectroscopy measurements on type II InGaAlAs/GaAsSb/InP heterojunction bipolar transistor: Correlation with electrical characteristics

H. Chouaib; C. Bru-Chevallier

doi:10.1063/1.4705408

Article Dans Une Revue Applied Physics Letters Année : 2012

Local micro-photoreflectance spectroscopy measurements on type II InGaAlAs/GaAsSb/InP heterojunction bipolar transistor: Correlation with electrical characteristics

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H. Chouaib

Fonction : Auteur

INL - Spectroscopies et Nanomatériaux

C. Bru-Chevallier

Fonction : Auteur
PersonId : 18273
IdHAL : catherine-bru-chevallier
ORCID : 0000-0002-1800-2579
IdRef : 033592837

INL - Spectroscopies et Nanomatériaux

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Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics] Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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Dernière modification le : mercredi 24 avril 2024-11:28:54

Dates et versions

hal-01901728 , version 1 (09-01-2019)

Identifiants

HAL Id : hal-01901728 , version 1
DOI : 10.1063/1.4705408

Citer

H. Chouaib, C. Bru-Chevallier. Local micro-photoreflectance spectroscopy measurements on type II InGaAlAs/GaAsSb/InP heterojunction bipolar transistor: Correlation with electrical characteristics. Applied Physics Letters, 2012, 100 (17), ⟨10.1063/1.4705408⟩. ⟨hal-01901728⟩

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