A new method for test chip and single 40nm NOR Flash cell electrical parameters correlation using a CAST structure - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2018

A new method for test chip and single 40nm NOR Flash cell electrical parameters correlation using a CAST structure

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Micro et nanotechnologies/Microélectronique
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hal-01900783 , version 1 (29-07-2020)

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Citer

T. Kempf, V. Della Marca, P. Canet, A. Regnier, P. Masson, et al.. A new method for test chip and single 40nm NOR Flash cell electrical parameters correlation using a CAST structure. 2018 International Symposium on VLSI Technology, Systems and Application (VLSI-TSA), Apr 2018, Hsinchu, Taiwan. ⟨10.1109/VLSI-TSA.2018.8403859⟩. ⟨hal-01900783⟩

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