CMOS 65 nm wideband LNA reliability estimation - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2009

CMOS 65 nm wideband LNA reliability estimation

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Micro et nanotechnologies/Microélectronique Electronique
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hal-01898815 , version 1 (05-10-2022)

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Citer

Pietro Maris Ferreira, Hervé Petit, Jean-Francois Naviner. CMOS 65 nm wideband LNA reliability estimation. IEEE New Circuits ans Systems Conference, Jun 2009, Toulouse, France. ⟨10.1109/NEWCAS.2009.5290434⟩. ⟨hal-01898815⟩

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