Modeling &amp; PVT characterization of arbitrary ordered VSCP-PLL using an efficient event-driven approach

E. Ali; W. Rahajandraibe; N. Tall; Fayrouz. Haddad; C. Hangmann; C. Hedayat

doi:10.1109/NEWCAS.2015.7182081

Communication Dans Un Congrès Année : 2015

Modeling & PVT characterization of arbitrary ordered VSCP-PLL using an efficient event-driven approach

, (1) , (1) , , ,

1

E. Ali

Fonction : Auteur
PersonId : 792881
ORCID : 0000-0001-6867-0594

W. Rahajandraibe

Fonction : Auteur
PersonId : 751037
IdHAL : rahajandraibe-wenceslas
ORCID : 0000-0003-1508-5927

Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence

N. Tall

Fonction : Auteur

Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence

Fayrouz. Haddad

Fonction : Auteur
PersonId : 10998
IdHAL : fayrouz-haddad
ORCID : 0000-0003-3413-8369
IdRef : 150690029

C. Hangmann

Fonction : Auteur

C. Hedayat

Fonction : Auteur

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Fayrouz HADDAD : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01895532

Soumis le : lundi 15 octobre 2018-12:14:11

Dernière modification le : lundi 10 juin 2024-16:58:03

Dates et versions

hal-01895532 , version 1 (15-10-2018)

Identifiants

HAL Id : hal-01895532 , version 1
DOI : 10.1109/NEWCAS.2015.7182081

Citer

E. Ali, W. Rahajandraibe, N. Tall, Fayrouz. Haddad, C. Hangmann, et al.. Modeling & PVT characterization of arbitrary ordered VSCP-PLL using an efficient event-driven approach. 2015 IEEE 13th International New Circuits and Systems Conference (NEWCAS), Jun 2015, Grenoble, France. ⟨10.1109/NEWCAS.2015.7182081⟩. ⟨hal-01895532⟩

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