Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2018
Laurence BEN TITO : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01893707
Soumis le : jeudi 11 octobre 2018-16:17:49
Dernière modification le : mercredi 18 décembre 2024-09:30:23
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Licence
Identifiants
- HAL Id : hal-01893707 , version 1
- DOI : 10.1016/j.microrel.2018.07.069
Citer
Thiago Ferreira de Paiva Leite, Laurent Fesquet, Rodrigo Possamai Bastos. A body built-in cell for detecting transient faults and dynamically biasing subcircuits of integrated systems. Microelectronics Reliability, 2018, 88-90, pp.122-127. ⟨10.1016/j.microrel.2018.07.069⟩. ⟨hal-01893707⟩
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