Article Dans Une Revue
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement
Année : 2004
Vincent Pouget : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01887656
Soumis le : jeudi 4 octobre 2018-12:12:46
Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11
Citer
V. Pouget, D. Lewis, P. Fouillat. Time-Resolved Scanning of Integrated Circuits With a Pulsed Laser: Application to Transient Fault Injection in an ADC. IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, 2004, 53 (4), pp.1227 - 1231. ⟨10.1109/TIM.2004.831488⟩. ⟨hal-01887656⟩
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