Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2003
Vincent Pouget : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01887652
Soumis le : jeudi 4 octobre 2018-12:06:29
Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01887652 , version 1
- DOI : 10.1016/S0026-2714(03)00305-6
Citer
F. Beaudoin, R. Desplats, P. Perdu, Abdellatif Firiti, G. Haller, et al.. From Static Thermal and Photoelectric Laser Stimulation (TLS/PLS) to Dynamic Laser Testing. Microelectronics Reliability, 2003, 43 (9-11), pp.1681 - 1686. ⟨10.1016/S0026-2714(03)00305-6⟩. ⟨hal-01887652⟩
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