Poster De Conférence
Année : 2017
Rodolphe Vaillon : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01831332
Soumis le : jeudi 5 juillet 2018-18:17:46
Dernière modification le : jeudi 20 juin 2024-11:52:04
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01831332 , version 1
Citer
Etienne Blandre, Pierre-Olivier Chapuis, Rodolphe Vaillon. A full drift-diffusion model for near-field radiation mediated thermophotovoltaic devices. 3rd International Workshop on Nano-Micro Thermal Radiation (NanoRad 2017), Jun 2017, Daejon, South Korea. ⟨hal-01831332⟩
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