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Communication Dans Un Congrès Année : 2018

Investigation of Fast and Slow Charge Trapping Mechanisms of GaN/AlGaN HEMTs through Pulsed I-V Measurements and the Associated New Trap Model

Nandha Kumar Subramani
Vincent Gillet
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 1033995
Sylvain Laurent
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 918010
Christophe Charbonniaud
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 949141
Michel Prigent
Raymond Quéré
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01828885 , version 1 (03-07-2018)

Identifiants

Citer

Julien Couvidat, Nandha Kumar Subramani, Vincent Gillet, Sylvain Laurent, Christophe Charbonniaud, et al.. Investigation of Fast and Slow Charge Trapping Mechanisms of GaN/AlGaN HEMTs through Pulsed I-V Measurements and the Associated New Trap Model. 2018 International Microwave Symposium (IMS2018), IEEE, Jun 2018, Philadelphia, United States. ⟨10.1109/MWSYM.2018.8439142⟩. ⟨hal-01828885⟩
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