Communication Dans Un Congrès
Année : 2018
Julien Couvidat : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01828885
Soumis le : mardi 3 juillet 2018-15:12:22
Dernière modification le : vendredi 8 mars 2024-10:16:48
Citer
Julien Couvidat, Nandha Kumar Subramani, Vincent Gillet, Sylvain Laurent, Christophe Charbonniaud, et al.. Investigation of Fast and Slow Charge Trapping Mechanisms of GaN/AlGaN HEMTs through Pulsed I-V Measurements and the Associated New Trap Model. 2018 International Microwave Symposium (IMS2018), IEEE, Jun 2018, Philadelphia, United States. ⟨10.1109/MWSYM.2018.8439142⟩. ⟨hal-01828885⟩
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