Evaluation of ELDRS Mechanisms Using Dose Rate Switching Experiments on Gated Lateral PNP Transistors - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2011

Evaluation of ELDRS Mechanisms Using Dose Rate Switching Experiments on Gated Lateral PNP Transistors

Domaines

Electronique
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01823577 , version 1 (26-06-2018)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01823577 , version 1

Citer

Y. Gonzalez Velo, J. Boch, Frédéric Saigné, N. Roche, S. Perez, et al.. Evaluation of ELDRS Mechanisms Using Dose Rate Switching Experiments on Gated Lateral PNP Transistors. NSREC 2011, 2011, Las Végas, United States. ⟨hal-01823577⟩
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