Communication Dans Un Congrès
Année : 2008
Dauverchain Eric : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01822450
Soumis le : lundi 25 juin 2018-10:24:49
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:07
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01822450 , version 1
Citer
L. Dusseau, M. Bernard, Y. Gonzalez Velo, N. Roche, E. Lorfèvre, et al.. Review and analysis of the radiation induced degradation observed on the input bias current of linear integrated circuits. 45th IEEE Nuclear Space and Radiation Effects Conference, 2008, Tucson, United States. ⟨hal-01822450⟩
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