High Current Impact Ionization Model - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2018

High Current Impact Ionization Model

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

sebastien fregonese  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01820049

Soumis le : jeudi 21 juin 2018-11:18:09

Dernière modification le : mercredi 15 novembre 2023-13:14:27

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01820049 , version 1 (21-06-2018)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01820049 , version 1

Citer

Mathieu Jaoul, Cristell Maneux, Thomas Zimmer, Didier Céli, Michael Schröter. High Current Impact Ionization Model. HICUM WORKSHOP, Jun 2018, Munich, Germany. ⟨hal-01820049⟩

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