Estimation of Low-Dose-Rate Degradation on Bipolar Linear Integrated Circuits Using Switching Experiments
Jérôme Boch
(1)
,
Frédéric Saigné
(1)
,
R.D. Schrimpf
(2)
,
J.-R. Vaillé
(1)
,
L. Dusseau
(1)
,
S. Ducret
(1)
,
M. Bernard
(1)
,
E. Lorfèvre
(3)
,
C. Chatry
Jérôme Boch
- Fonction : Auteur
- PersonId : 18222
- IdHAL : jerome-boch
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Frédéric Saigné
- Fonction : Auteur
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J.-R. Vaillé
- Fonction : Auteur
- PersonId : 19297
- IdHAL : jean-roch-vaille
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L. Dusseau
- Fonction : Auteur
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E. Lorfèvre
- Fonction : Auteur
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- IdHAL : matthieu-kretzschmar
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C. Chatry
- Fonction : Auteur