Trade-off in logical radiation hardening: Approach, mechanisms, and reliability impacts - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2016

Trade-off in logical radiation hardening: Approach, mechanisms, and reliability impacts

Hycham Aboutaleb
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 976492
Unité d'Informatique et d'Ingénierie des Systèmes
Bruno Monsuez
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 971596
Unité d'Informatique et d'Ingénierie des Systèmes

Domaines

Systèmes embarqués Performance et fiabilité [cs.PF] Architectures Matérielles [cs.AR] Systèmes et contrôle [cs.SY]

Hycham Aboutaleb  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01774798

Soumis le : lundi 23 avril 2018-21:43:29

Dernière modification le : lundi 5 août 2024-14:50:04

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01774798 , version 1 (23-04-2018)

Identifiants

Citer

Hycham Aboutaleb, Bruno Monsuez. Trade-off in logical radiation hardening: Approach, mechanisms, and reliability impacts. 2016 Annual Reliability and Maintainability Symposium (RAMS), Jan 2016, Tucson, United States. ⟨10.1109/RAMS.2016.7448036⟩. ⟨hal-01774798⟩

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