Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2017
Etienne Talbot : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01766126
Soumis le : vendredi 13 avril 2018-12:15:19
Dernière modification le : mercredi 24 avril 2024-13:36:03
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01766126 , version 1
- DOI : 10.1016/j.microrel.2017.07.002
Citer
S. Mbarek, Pascal Dherbécourt, O. Latry, F. Fouquet. Short-circuit robustness test and in depth microstructural analysis study of SiC MOSFET. Microelectronics Reliability, 2017, 76-77, pp.527 - 531. ⟨10.1016/j.microrel.2017.07.002⟩. ⟨hal-01766126⟩
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