Short-circuit robustness test and in depth microstructural analysis study of SiC MOSFET - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2017

Short-circuit robustness test and in depth microstructural analysis study of SiC MOSFET

Pascal Dherbécourt
O. Latry
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01766126 , version 1 (13-04-2018)

Identifiants

Citer

S. Mbarek, Pascal Dherbécourt, O. Latry, F. Fouquet. Short-circuit robustness test and in depth microstructural analysis study of SiC MOSFET. Microelectronics Reliability, 2017, 76-77, pp.527 - 531. ⟨10.1016/j.microrel.2017.07.002⟩. ⟨hal-01766126⟩
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