Article Dans Une Revue
Engineering Failure Analysis
Année : 2017
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https://hal.science/hal-01766076
Soumis le : vendredi 13 avril 2018-11:59:02
Dernière modification le : samedi 13 décembre 2025-11:20:15
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01766076 , version 1
- DOI : 10.1016/j.engfailanal.2017.07.014
Citer
Niemat Moultif, Alexis Divay, Eric Joubert, O. Latry. Localizing and analyzing defects in AlGaN/GaN HEMT using photon emission spectral signatures. Engineering Failure Analysis, 2017, 81, pp.69 - 78. ⟨10.1016/j.engfailanal.2017.07.014⟩. ⟨hal-01766076⟩
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