Article Dans Une Revue
Microscopy and Microanalysis
Année : 2017
Etienne Talbot : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01766042
Soumis le : vendredi 13 avril 2018-11:51:46
Dernière modification le : mercredi 24 avril 2024-13:36:03
Citer
Enrico Di Russo, Ivan Blum, Jonathan Houard, Gérald da Costa, Didier Blavette, et al.. Field-Dependent Measurement of GaAs Composition by Atom Probe Tomography. Microscopy and Microanalysis, 2017, 23 (06), pp.1067 - 1075. ⟨10.1017/s1431927617012582⟩. ⟨hal-01766042⟩
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