Field-Dependent Measurement of GaAs Composition by Atom Probe Tomography - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Microscopy and Microanalysis Année : 2017

Field-Dependent Measurement of GaAs Composition by Atom Probe Tomography

Enrico Di Russo
Ivan Blum
Jonathan Houard
Gérald da Costa
Didier Blavette
Lorenzo Rigutti
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01766042 , version 1 (13-04-2018)

Identifiants

Citer

Enrico Di Russo, Ivan Blum, Jonathan Houard, Gérald da Costa, Didier Blavette, et al.. Field-Dependent Measurement of GaAs Composition by Atom Probe Tomography. Microscopy and Microanalysis, 2017, 23 (06), pp.1067 - 1075. ⟨10.1017/s1431927617012582⟩. ⟨hal-01766042⟩
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